產(chǎn)品資料
日本yamabun臺(tái)式離線光譜干涉儀測(cè)厚儀TOF-S
產(chǎn)品名稱: 日本yamabun臺(tái)式離線光譜干涉儀測(cè)厚儀TOF-S
產(chǎn)品型號(hào):
產(chǎn)品特點(diǎn): 日本yamabun臺(tái)式離線光譜干涉儀測(cè)厚儀TOF-S光學(xué)膜和透明涂層的理想選擇型號(hào)托福測(cè)量方式非接觸型/光譜干擾型測(cè)量目標(biāo)電子和光學(xué)透明透明薄膜，多層薄膜測(cè)量原理光譜干擾類型
日本yamabun臺(tái)式離線光譜干涉儀測(cè)厚儀TOF-S 的詳細(xì)介紹
日本yamabun臺(tái)式離線光譜干涉儀測(cè)厚儀TOF-S
產(chǎn)品特點(diǎn)
高測(cè)量重復(fù)性（±0.01μm或更小，取決于目標(biāo)物體和測(cè)量條件）
不易受溫度變化的影響
可以制造用于研究和檢查的離線類型以及在制造過(guò)程中使用的在線類型
反射型可從膠片的一側(cè)進(jìn)行測(cè)量
可以僅測(cè)量透明涂層（取決于測(cè)量條件）
日本yamabun臺(tái)式離線光譜干涉儀測(cè)厚儀TOF-S
產(chǎn)品規(guī)格
| 測(cè)量厚度 | 1至50μm（對(duì)于薄材料），10至150μm（對(duì)于厚材料） |
|---|---|
| 測(cè)量長(zhǎng)度 | 50-5000毫米 |
| 測(cè)量間距 | 1毫米? |
| 小顯示值 | 0.001微米 |
| 電源電壓 | AC100伏50/60 Hz |
| 工作溫度范圍 | 5至45°C（測(cè)量期間溫度變化在1°C以內(nèi)） |
| 濕度 | 35-80％（無(wú)凝結(jié)） |
| 測(cè)量面積 | φ0.6毫米 |
| 測(cè)量間隙 | 約30毫米 |
金屬板的理想選擇TOF-M
產(chǎn)品特點(diǎn)
測(cè)量帶狀金屬板的厚度變化
通過(guò)自動(dòng)傳輸機(jī)制實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的測(cè)量重復(fù)性
測(cè)量數(shù)據(jù)可以自動(dòng)保存在PC上
產(chǎn)品規(guī)格
| 測(cè)量厚度 | 0.1-0.5毫米 |
|---|---|
| 測(cè)量長(zhǎng)度 | 10-1800毫米 |
| 測(cè)量間距 | 0.1毫米? |
| 小顯示值 | 0.1微米 |
| 測(cè)量壓力 | 0.45±0.25 N以下 |
| 電源電壓 | AC100V 50/60赫茲 |
| 工作溫度范圍 | 5-40℃ |
| 濕度 | 30-80％（無(wú)凝結(jié)） |
| 耗電量 | 50 VA（不包括PC） |
了解有關(guān)樣本測(cè)試的更多信息
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