日本yamabun薄膜臺(tái)式離線電容式測(cè)厚儀

產(chǎn)品名稱: 日本yamabun薄膜臺(tái)式離線電容式測(cè)厚儀

產(chǎn)品型號(hào): TOF-C2 * TOF-C

產(chǎn)品特點(diǎn): 日本yamabun薄膜臺(tái)式離線電容式測(cè)厚儀TOF-C2 * TOF-C
離線型厚度計(jì)是臺(tái)式緊湊型厚度計(jì)。將薄膜或薄片切成條狀并測(cè)量。主要特征是任何人都可以輕松，快速地進(jìn)行測(cè)量，因?yàn)闇y(cè)量是在自動(dòng)運(yùn)輸時(shí)執(zhí)行的，并且不受測(cè)量者技能的影響。
它通常用于質(zhì)量控制部門和研發(fā)應(yīng)用程序。另外，由于測(cè)量圖可以以環(huán)形顯示，因此它們經(jīng)常用于吹膜生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)。

日本yamabun薄膜臺(tái)式離線電容式測(cè)厚儀 的詳細(xì)介紹

日本yamabun薄膜臺(tái)式離線電容式測(cè)厚儀TOF-C2 * TOF-C

日本yamabun薄膜臺(tái)式離線電容式測(cè)厚儀

厚度臺(tái)式型離線型用于質(zhì)量控制和檢查

離線型厚度計(jì)是臺(tái)式緊湊型厚度計(jì)。將薄膜或薄片切成條狀并測(cè)量。主要特征是任何人都可以輕松，快速地進(jìn)行測(cè)量，因?yàn)闇y(cè)量是在自動(dòng)運(yùn)輸時(shí)執(zhí)行的，并且不受測(cè)量者技能的影響。
它通常用于質(zhì)量控制部門和研發(fā)應(yīng)用程序。另外，由于測(cè)量圖可以以環(huán)形顯示，因此它們經(jīng)常用于吹膜生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)。

型號(hào)	TOF-C2 * TOF-C的后續(xù)型號(hào)
測(cè)量方式	非接觸型/電容型
測(cè)量目標(biāo)	薄膜，例如拉伸膜，粘性保護(hù)膜，容易粘附灰塵的膜
測(cè)量原理	電容式

產(chǎn)品特點(diǎn)

高測(cè)量分辨率
非常適合非接觸型難以接觸的薄膜
即使在粗糙的表面上也可以測(cè)量
基重測(cè)量
操作簡(jiǎn)便（具有自動(dòng)介電常數(shù)設(shè)定功能）

日本yamabun薄膜臺(tái)式離線電容式測(cè)厚儀TOF-C2 * TOF-C

產(chǎn)品規(guī)格

測(cè)量厚度	5至500μm
測(cè)量長(zhǎng)度	10-10000毫米
測(cè)量間距	1毫米?
小顯示值	0.01微米
電源電壓	AC100V 50/60赫茲
工作溫度范圍	5-40°C（測(cè)量期間溫度變化在1°C以內(nèi)）
濕度	35-80％（無(wú)凝結(jié)）產(chǎn)品特點(diǎn) 高測(cè)量分辨率非常適合非接觸型難以接觸的薄膜即使在粗糙的表面上也可以測(cè)量基重測(cè)量操作簡(jiǎn)便（具有自動(dòng)介電常數(shù)設(shè) 產(chǎn)品特點(diǎn) 高測(cè)量分辨率非常適合非接觸型難以接觸的薄膜即使在粗糙的表面上也可以測(cè)量基重測(cè)量操作簡(jiǎn)便（具有自動(dòng)介電常數(shù)設(shè) 產(chǎn)品特點(diǎn) 高測(cè)量分辨率非常適合非接觸型難以接觸的薄膜即使在粗糙的表面上也可以測(cè)量基重測(cè)量操作簡(jiǎn)便（具有自動(dòng)介電常數(shù)設(shè) 產(chǎn)品特點(diǎn) 高測(cè)量分辨率非常適合非接觸型難以接觸的薄膜即使在粗糙的表面上也可以測(cè)量基重測(cè)量操作簡(jiǎn)便（具有自動(dòng)介電常數(shù)設(shè)