薄膜工件近紅外透射檢查亮度功率光纖光源

產品名稱: 薄膜工件近紅外透射檢查亮度功率光纖光源

產品型號: SRBX-150V-NIR

產品特點: 薄膜工件近紅外透射檢查亮度功率光纖光源
輸出波段
典型中心波長 850 nm 或 940 nm（可定制 1060 nm / 1100 nm），適用于硅基、玻璃、薄膜等近紅外透射/反射缺陷檢查。
亮度與功率
同系列 150 W 鹵素替代型 LED 模塊在 850 nm 波段輸出光功率＞150 W 鹵素等效值，配合石英光纖可實現工作面輻照度 > 100 mW cm?²（出光口 50 mm 距離）[ ^

薄膜工件近紅外透射檢查亮度功率光纖光源 的詳細介紹

薄膜工件近紅外透射檢查亮度功率光纖光源

輸出波段
典型中心波長 850 nm 或 940 nm（可定制 1060 nm / 1100 nm），適用于硅基、玻璃、薄膜等近紅外透射/反射缺陷檢查。
亮度與功率
同系列 150 W 鹵素替代型 LED 模塊在 850 nm 波段輸出光功率＞150 W 鹵素等效值，配合石英光纖可實現工作面輻照度 > 100 mW cm?2（出光口 50 mm 距離）[ ^116^ ]。
光纖接口
標準配置 φ8 mm 金屬護套分叉雙支光纖，長度 500 mm；可選單支、環狀或線狀導光束，以適配環形/條形視野。
調光方式
0–100 % 連續 PWM 調光，旋鈕本地控制，同時提供外部 0–5 V 模擬接口，可與視覺系統同步觸發，無閃爍頻率 20 kHz。
冷卻與尺寸
自然鋁鰭散熱，無需風扇，主機約 150 mm × 65 mm × 110 mm；DC 24 V/3 A 供電，功耗最大 70 W，可側掛或 35 mm DIN 導軌安裝。
應用示例

硅晶圓背面裂紋、異物檢查（940 nm 透射）
玻璃邊緣應力斑、氣泡檢測（850 nm 暗場）
薄膜涂層針孔、刮傷成像（1060 nm 均勻背光）

輸出波段
典型中心波長 850 nm 或 940 nm（可定制 1060 nm / 1100 nm），適用于硅基、玻璃、薄膜等近紅外透射/反射缺陷檢查。
亮度與功率
同系列 150 W 鹵素替代型 LED 模塊在 850 nm 波段輸出光功率＞150 W 鹵素等效值，配合石英光纖可實現工作面輻照度 > 100 mW cm?2（出光口 50 mm 距離）[ ^116^ ]。
光纖接口
標準配置 φ8 mm 金屬護套分叉雙支光纖，長度 500 mm；可選單支、環狀或線狀導光束，以適配環形/條形視野。
調光方式
0–100 % 連續 PWM 調光，旋鈕本地控制，同時提供外部 0–5 V 模擬接口，可與視覺系統同步觸發，無閃爍頻率 20 kHz。
冷卻與尺寸
自然鋁鰭散熱，無需風扇，主機約 150 mm × 65 mm × 110 mm；DC 24 V/3 A 供電，功耗最大 70 W，可側掛或 35 mm DIN 導軌安裝。
應用示例